對(duì)于渦流導(dǎo)電儀常見(jiàn)的一些問(wèn)題作出解答，以供排查原因

Q：為什么有時(shí)開(kāi)機(jī)后測(cè)試材料有誤差？

A：任何導(dǎo)電儀隨著環(huán)境溫度變化或長(zhǎng)時(shí)間未使用時(shí)都應(yīng)在開(kāi)機(jī)后先進(jìn)行校準(zhǔn)，減少測(cè)量誤差。

Q：為什么我校準(zhǔn)后測(cè)試標(biāo)塊數(shù)值還是對(duì)不上？

A：請(qǐng)確保儀器使用的單位和標(biāo)塊上貼的單位相同，如默認(rèn)標(biāo)塊上貼的數(shù)值單位是MS/m，而儀器使用的單位是%IACS請(qǐng)?jiān)谠O(shè)置菜單里更改默認(rèn)單位或通過(guò)快捷鍵切換單位。

Q：為什么開(kāi)機(jī)后馬上測(cè)試的值有時(shí)有變化？

A：探頭需要預(yù)熱，探頭連接儀器后的預(yù)熱時(shí)間不夠會(huì)造成溫度不穩(wěn)定，從而影響測(cè)試結(jié)果，60KHz探頭建議預(yù)熱2分鐘，500KHz探頭建議預(yù)熱5分鐘。

Q：為什么插上探頭后測(cè)試材料無(wú)反應(yīng)？

A：如果是Sigma2008B型請(qǐng)檢查儀器“頻率及探頭”選擇設(shè)置里是否是對(duì)應(yīng)探頭。如果是Sigma2008B型以外的儀器請(qǐng)檢查探頭是否插緊或探頭引線斷，并按MEAS鍵確?；氐綔y(cè)量界面再測(cè)試。

 

Q：為什么測(cè)試過(guò)程中數(shù)值會(huì)上下浮動(dòng)？

A：被測(cè)材料溫度不穩(wěn)定，應(yīng)遠(yuǎn)離空調(diào)口、火爐旁等溫度變化大的地方。在校準(zhǔn)或測(cè)量時(shí)，應(yīng)盡量保持探頭與試件平面垂直平穩(wěn)。不要用手多次觸摸探頭前端和被測(cè)工件表面。

 

Q：為什么測(cè)試同一塊材料會(huì)出現(xiàn)不同數(shù)值？

A：請(qǐng)注意測(cè)試的是否同一個(gè)點(diǎn)，即使是同一塊材料也無(wú)法做到電導(dǎo)率值完全均勻，測(cè)試位置不同數(shù)值多少都會(huì)有點(diǎn)不同。材料表面光滑度和鍍層厚度也都會(huì)影響被測(cè)結(jié)果。

 

Q：為什么測(cè)試后無(wú)提示音并畫(huà)面上的數(shù)值一直閃爍？

A：對(duì)于Sigma2008A1和Sigma2008C1型表示測(cè)量值低于測(cè)量范圍，應(yīng)采用Sigma2008A型、B型、B1型、C型等全量程機(jī)型。

 

Q：為什么探頭頻率越高，測(cè)量電導(dǎo)率材料的厚度可以越?。?/span>

A：因?yàn)闇u流法電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x是根據(jù)載有高頻交變電流的線圈（也稱探頭）接近導(dǎo)體表面產(chǎn)生渦流，通過(guò)測(cè)量渦流大小就可得到導(dǎo)體的導(dǎo)電率。當(dāng)材料厚度低于3×δ的趨膚深度時(shí)測(cè)量結(jié)果就有誤差，趨膚深度與檢測(cè)頻率及材料導(dǎo)電率有關(guān)，材料導(dǎo)電率和檢測(cè)頻率越高趨膚深度就越小，可測(cè)材料厚度就可以越小。若材料實(shí)在不夠厚度，可采用疊加2-3層再進(jìn)入測(cè)量（注意盡量減少疊層中空氣）。

 

Q：為什么我旋轉(zhuǎn)拔出探頭后再插上探頭就沒(méi)反應(yīng)了？

A：請(qǐng)注意部分機(jī)型（如Sigma2008C系列和老款Sigma2008A系列）探頭與儀器的連接部分只能直拔直插，千萬(wàn)不能旋轉(zhuǎn)，一旦旋轉(zhuǎn)則會(huì)造成內(nèi)部斷線探頭損壞，連接示意圖請(qǐng)參考：探頭連接與分離示意圖

Q：為什么同一材料不同儀器測(cè)試結(jié)果會(huì)不同？

A：渦流導(dǎo)電儀的測(cè)量精確度是由導(dǎo)電儀主機(jī)和校準(zhǔn)標(biāo)塊兩部分決定。一般廠家配的標(biāo)塊（稱為商用標(biāo)塊）檢定值是上一級(jí)標(biāo)塊的傳遞值。不同廠家校準(zhǔn)標(biāo)塊的檢定值“追蹤溯源”出處不同，或多或少存在誤差，另外考慮到商用標(biāo)塊的均質(zhì)性，最好標(biāo)塊每年要進(jìn)行有效檢定。